自旋電子學(xué)經(jīng)過(guò)數(shù)十年的發(fā)展，已在傳感器、非易失性磁存儲(chǔ)以及新材料特性研究等多個(gè)領(lǐng)域展現(xiàn)出重要價(jià)值。它不僅是當(dāng)前科學(xué)研究的前沿?zé)狳c(diǎn)，也受到了工業(yè)界的廣泛重視。對(duì)磁疇進(jìn)行直接觀測(cè)與記錄，對(duì)于深入理解材料特性具有重要意義；而剖析磁疇的運(yùn)動(dòng)過(guò)程，不僅能直觀展示磁性翻轉(zhuǎn)現(xiàn)象，更有助于揭示其背后的物理機(jī)理。

傳統(tǒng)的單點(diǎn)磁滯回線測(cè)量?jī)x已難以滿足當(dāng)前需求，相比之下，磁光克爾綜合測(cè)試平臺(tái)能夠追蹤平面內(nèi)數(shù)百萬(wàn)點(diǎn)的實(shí)時(shí)磁性動(dòng)態(tài)信息。配合該平臺(tái)提供的直流探針和高頻探針，樣品測(cè)試變得無(wú)比便捷。如今，自旋電子學(xué)與磁學(xué)的研究已從早期的磁性驅(qū)動(dòng)翻轉(zhuǎn)，深入到直流電流、脈沖電流、微波脈沖乃至光驅(qū)動(dòng)等多種激勵(lì)源作用下的復(fù)雜過(guò)程研究。

在這樣的背景下，托托科技 磁光克爾顯微鏡綜合測(cè)試設(shè)備——TTT-02-Kerr Microscope。顯微磁疇空間分辨率優(yōu)于0.5微米，磁光克爾角分辨率優(yōu)于0.1毫度，并支持極向、縱向、橫向三種磁光克爾效應(yīng)測(cè)量方式。它不僅能實(shí)時(shí)追蹤平面內(nèi)數(shù)百萬(wàn)點(diǎn)的磁疇動(dòng)態(tài)，還能搭配探針臺(tái)，實(shí)現(xiàn)電學(xué)、磁學(xué)、光學(xué)參數(shù)的同步觀測(cè)。因此，該設(shè)備廣泛應(yīng)用于磁學(xué)和自旋電子學(xué)領(lǐng)域，是觀測(cè)磁光克爾效應(yīng)、磁滯回線、磁疇翻轉(zhuǎn)與擴(kuò)展等關(guān)鍵現(xiàn)象的理想工具。

托托科技 磁光克爾顯微鏡綜合測(cè)試設(shè)備擁有多項(xiàng)產(chǎn)品亮點(diǎn)：

智能照明系統(tǒng)：

提供穩(wěn)定且均勻的光源。

具備極向、縱向和橫向測(cè)試能力。

光源亮度高達(dá)市場(chǎng)上同類(lèi)產(chǎn)品的4倍。

多功能顯微系統(tǒng)：

支持線偏振光和圓偏振光。

提升了相差畸變矯正效果。

配備電動(dòng)顯微聚焦功能。

矢量磁場(chǎng)系統(tǒng)：

垂直磁場(chǎng)模式Z高可達(dá)1.4T（間隙1cm）。

面內(nèi)磁場(chǎng)Z高可達(dá)1.0T（間隙1cm）或0.36T（間隙4cm），并適配低溫恒溫器；矢量模式可達(dá)0.35T。

面垂直磁場(chǎng)與面內(nèi)磁場(chǎng)可快速切換。

相機(jī)系統(tǒng)：

超動(dòng)態(tài)范圍達(dá)30000:1（相比同類(lèi)提升十倍）。

高量子效率超過(guò)80%（相比同類(lèi)提升1.2倍）。

支持高速攝像與高分辨率成像。

直流/交流探針：

可與多種外接電表匹配（如6221，2400等）。

可配合高頻電表使用。

適用于配合引線鍵合器件進(jìn)行測(cè)試。

光學(xué)平臺(tái)：

采用氣浮隔振技術(shù)。

配備電子主動(dòng)反饋隔振系統(tǒng)，確保穩(wěn)定性。